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Instrument de mesure optique de rayon X de longueur d'onde de spectromètre dispersif de fluorescence
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xÉléments mesurables | 10 éléments arbitraires de Na à U | Algorithmes d'analyse | algorithme de coefficient et théorique empiriques - un algorithme de coefficient |
---|---|---|---|
Alimentation d'énergie d'AC220V | C.A. 1KVA a épuré l'alimentation d'énergie stabilisée de tension | Approvisionnement à haute tension | 200W (50KV4mA) |
stabilité de 12-heure de tension de tube et de courant de tube | moins de 0.05 % | pompe à vide | -220V biphasé, 2 litres |
Ordinateur industriel | ordinateur 104 industriel | Précision de l'analyse | (24 heures, contenu de pour cent) ≤ σn-1 0.05 % |
Surligner | spectromètre dispersif de fluorescence de rayon de x de longueur d'onde,spectromètre de mesure optique de fluorescence de rayon de x,spectromètre dispersif de xrf de longueur d'onde |
Spectromètre dispersif de fluorescence de rayon X de mesure de longueur d'onde optique d'instrument
Le spectromètre multicanal de fluorescence de rayon X du contrat ZKTD-XFS104, avec la configuration de 10 canaux et capacités fixes pour analyser 10 éléments simultanément, peut réaliser l'analyse élémentaire des dix éléments arbitraires du Na à U a basé sur les besoins des utilisateurs. Il est très utilisé en charbon, pétrole, kaolin, verre, ciment, acier, métallurgie des poudres, matériaux et protection de l'environnement réfractaire, et en conséquence un choix idéal pour le contrôle de qualité à de grandes et moyennes entreprises mesurées.
Champs d'application :
- Matériaux de construction (ciment, verre, céramique)
- Métaux de métallurgie (en acier, non ferreux)
- Pétrole (oligoéléments S, Pb et ainsi de suite)
- Génie chimique
- Géographie et exploitation
- Inspection des produits
- Inspection de qualité
- Corps humain Trace Elements Inspection
3. Caractéristiques du produit
Analyse rapide et non destructive des échantillons de poudre et en vrac.
Les MCM à grande vitesse multicanaux offrent la mesure opportune de chaque crête d'élément, bénéficiant non seulement l'élimination des imperfections d'instrument et le diagnostic d'échec mais également l'amélioration de la stabilité de l'instrument.
Comparé aux spectromètres séquentiels de pouvoir étendu de balayage, l'instrument gagne la précision suffisante d'analyse même lorsque la puissance faible et le temps égal de mesure sont adoptés, qui dote non seulement l'instrument avec la représentation coûtée élevée, mais également empêche le port du goniomètre, prolonge la durée de vie du tube à rayon X, réduit au minimum des échecs du bloc THT et réduit le coût de maintenance de l'instrument entier.